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LTOL集成电路低温动态老化测试系统作为评估集成电路可靠性的关键环节，模拟芯片在低温、高压下的长期运行状态，以此精准评估芯片寿命、可靠性与稳定性。本系统专为各类封装形式的大、中、小规模集成电路量身打造，广泛适用于微处理器、逻辑电路等多种器件的工作寿命试验与低温动态老炼筛选。
产品特点：
智能监测，实时把控：运用自研在线实时监测技术，实时监测环境温度、芯片电压、电流等状态，保障测试质量，数据异常时自动报警，提升测试效率，降低成本。
灵活配置，即便捷又效率高：方便灵活配置芯片测试温度、向量、电压等参数，大幅提高 HTOL 调试及设置效率，操作简单易上手。
数据详实，分析有力：全程实时记录数据，生成正态分布图、散点图等分析数据，助力分析芯片温度特性，使数据更具说服力。
节能环保，高度集成：设备体积小、重量轻、功耗小，采用专利厂务水降温，无需排风管道，节能环保，干净整洁。
| 序号 | 项目 | 参数 | 参数 |
| 1 | 机台型号 | KL-LT1600 | KL-LT3200 |
| 2 | 老化温度区间 | -40℃ ~ 50C° | -40℃ ~ 50C° |
| 3 | 测试温区 | 1 | 2(支持选配高温区组合) |
| 4 | 老化测试插槽 | 16 | 32 |
| 5 | 支持BIB尺寸 | 570*450(mm) | 570*450(mm) |
| 6 | 单块老化板产品数 | (根据产品尺寸和Socket尺寸评估) | (根据产品尺寸和Socket尺寸评估) |
| 7 | 设备产能 | 1600pcs(按板100Dut核算) | 3200pcs(按板100Dut核算) |
| 8 | 温度均匀性 | <±2℃(空载) / <±5℃(满载) | <±2℃(空载) / <±5℃(满载) |
| 9 | 升降温时间 | ≥3℃/min | ≥3℃/min |
| 9 | 电源驱动(单板8Channel) | DPS1 0.5V-6V/25A,75W | DPS1 0.5V-6V/25A,75W |
| DPS2 0.5V-6V/25A,75W | DPS2 0.5V-6V/25A,75W | ||
| ?DPS3 0.5V-10V/10A,30W | ?DPS3 0.5V-10V/10A,30W | ||
| ?DPS4 0.5V-10V/10A,30W | ?DPS4 0.5V-10V/10A,30W | ||
| DPS5 0.5V-6V/20A,60W | DPS5 0.5V-6V/20A,60W | ||
| DPS6 0.5V-6V/20A,60W | DPS6 0.5V-6V/20A,60W | ||
| DPS7 0.5V-6V/10A,30W | DPS7 0.5V-6V/10A,30W | ||
| DPS8 0.5V-6V/10A,30W | DPS8 0.5V-6V/10A,30W | ||
| 10 | 电源设置精度 | 0.5% ± 0.05V | 0.5% ± 0.05V |
| 11 | 电源采样精度 | 0.5% ± 0.05V | 0.5% ± 0.05V |
| 12 | 电流采样精度 | 0.5% ± 0.1A | 0.5% ± 0.1A |
| 13 | 电源远端采样控制 | 支持 | 支持 |
| 14 | 电源保护 | OCP,OVP | OCP,OVP |
| 15 | IO通道 | 184 | 184 |
| 16 | IO功能 | 全双向 | 全双向 |
| 17 | IO频率 | 10MHz | 10MHz |
| 18 | IO驱动电流 | 100mA | 100mA |
| 19 | IO VIH | 0.5-5V | 0.5-5V |
| 20 | IO VIL | 0V | 0V |
| 21 | 向量zone | 每块BIB 独立zone | 每块BIB 独立zone |
| 22 | 向量格式 | WGL，VEC，PAT等常规格式 | WGL，VEC，PAT等常规格式 |
| 23 | 向量深度 | 32M | 32M |
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