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  • HTRB高温反偏老化测试系统
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详情介绍

HTRB(High Temperature Reverse Bias)HTRB高温反偏老化测试系统可在 200℃高温进行长期老化测试,配备2000V高压电源和自主研发的高精度数据采集卡,支持适用于各种封装的二极管、三极管、SCR、MOSFET等器件,能实时监测漏电流、电压状态、支持过流、过压、短路保护(自主关断单颗器件输入),记录数据和位置信息并导出报表。

产品特点:

精准监测,功能全面:实时监测老化参数,设定多种参数上限,超限报警并记录,方便调用数据生成报表、绘制曲线。

模块独立,灵活适用:老化系统采用单元模块和整体结构,每个模块可独立运行,适用于产品可靠性筛选和批量生产品质监控。

软件强大,管理有序:支持本地数据存储与上传、MES 对接、在线编辑测试程序,具备三级权限管理和多账号管理功能。


序号 项目 参数 参数
1 机台型号 卡伦测控KL-HTRB30 卡伦测控KL-HTRB50
2 老化温度区间 45℃ ~200C° 45℃ ~ 200C°
3 测试温区 64 128
4 老化测试插槽 64 128
5 上下料方式 Tray盘 Tray盘
6 单Tray产品数 60 60
7 设备产能 3840 7680
8 温度均匀性 <±2℃ <±2℃
9 温度稳定性 <±0.5℃ <±0.5℃
10 升降温时间 Room~150℃ ≥5℃/min 150℃~200℃ ≥3℃/min? Room~150℃ ≥5℃/min 150℃~200℃ ≥3℃/min?
11 高压电源驱动 2000V 2000V
12 高压上下电时间 步进/时间可设 步进/时间可设
13 高压电源通道 4 8
14 电压输出范围 100V~2000V 100V~2000V
15 电压输出精度 0.5% ± 0.01V 0.5% ± 0.01V
16 电流采样范围 0~100uA / 100uA~5mA 0~100uA / 100uA~5mA
17 电流采样精度 0.1% ± 5nA 0.1% ± 0.05uA
18 电源保护 OCP,OVP(断开单颗器件输入) OCP,OVP(断开单颗器件输入)

企业名片

卡伦测控技术(无锡)有限公司

 

 

 

卡伦测控技术(无锡)有限公司

[未认证会员]

主营业务:半导体芯片可靠性测试设备、MEMS标定(... [详细]

联系人:谢经理

经营性质: 设备供应商

所在地:江苏 无锡市 

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卡伦测控公司产品手册 类别:恒温恒湿试验箱 日期:2025-08-07 地址:无锡市 查看

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