HTOL集成电路高温动态老化测试系统

报价：9999元/台
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所在地：江苏无锡市
更新时间：2025-08-07 09:57:43
信息有效期：永久
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详情介绍

HTOL（High Temperature Operating Life）HTOL集成电路高温动态老化测试系统作为评估集成电路可靠性的关键环节，模拟芯片在高温、高压下的长期运行状态，以此精准评估芯片寿命、可靠性与稳定性。本系统专为各类封装形式的大、中、小规模集成电路量身打造，广泛适用于微处理器、逻辑电路等多种器件的工作寿命试验与高温动态老炼筛选。

产品特点：

自有发明专利智能动态在线实时监测技术。

方便灵活配置芯片状态、施加信号，提高HTOL debug及Setup效率。

实时监测并记录环境温度，以及每颗芯片电压，电流，寄存器状态等数据，确保芯片处于正常HTOL状态，保证HTOL 测试质量。

监测数据异常自动报警，实时发现问题并介入分析，大大提高HTOL效率，节省更多时间成本、 FA成本。

序号	项目	参数	参数
1	机台型号	KL-HT1600	KL-HT3200
2	老化温度区间	RoomT+20℃ ~ 150C°	RoomT+20℃ ~ 150C°
3	测试温区	1	2
4	老化测试插槽	16	32
5	支持BIB尺寸	570*450(mm)	570*450(mm)
6	单块老化板产品数	(根据产品尺寸和Socket尺寸评估)	(根据产品尺寸和Socket尺寸评估)
7	设备产能	1600pcs(按板100Dut核算)	3200pcs(按板100Dut核算)
8	温度均匀性	<±2℃(空载) / <±5℃(满载)	<±2℃(空载) / <±5℃(满载)
9	升降温时间	≥3℃/min	≥3℃/min
9	电源驱动(单板8Channel)	DPS1 0.5V-6V/25A,75W	DPS1 0.5V-6V/25A,75W
		DPS2 0.5V-6V/25A,75W	DPS2 0.5V-6V/25A,75W
		?DPS3 0.5V-10V/10A,30W	?DPS3 0.5V-10V/10A,30W
		?DPS4 0.5V-10V/10A,30W	?DPS4 0.5V-10V/10A,30W
		DPS5 0.5V-6V/20A,60W	DPS5 0.5V-6V/20A,60W
		DPS6 0.5V-6V/20A,60W	DPS6 0.5V-6V/20A,60W
		DPS7 0.5V-6V/10A,30W	DPS7 0.5V-6V/10A,30W
		DPS8 0.5V-6V/10A,30W	DPS8 0.5V-6V/10A,30W
10	电源设置精度	0.5% ± 0.05V	0.5% ± 0.05V
11	电源采样精度	0.5% ± 0.05V	0.5% ± 0.05V
12	电流采样精度	0.5% ± 0.1A	0.5% ± 0.1A
13	电源远端采样控制	支持	支持
14	电源保护	OCP,OVP	OCP,OVP
15	IO通道	184	184
16	IO功能	全双向	全双向
17	IO频率	10MHz	10MHz
18	IO驱动电流	100mA	100mA
19	IO VIH	0.5-5V	0.5-5V
20	IO VIL	0V	0V
21	向量zone	每块BIB 独立zone	每块BIB 独立zone
22	向量格式	WGL，VEC，PAT等常规格式	WGL，VEC，PAT等常规格式
23	向量深度	32M	32M