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v|tome|x s 高分辨率微焦点X射线计算机断层扫描检测系统
v|tome|x s 高分辨率微焦点计算机层析检测系统
灵活通用的CT系统,适于二维和三维检测 双X射线源设计,240kV/320W微焦点射线管 与180kV高功率纳米焦点射线管(可选) 高精密CNC控制机械平台 高对比度平板探测器 专业CT软件可进行快速数据采集和三维重建 专业图像处理工作站,快速重建CT数据和分析 影像截取和数据处理并行处理










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